近日，国际重要学术刊物《IEEE Transactions on Industrial Electronics》（IEEE旗下的SCI一区TOP期刊，IF=7.050）发表了重庆理工大学刘小康和彭东林教授课题组的研究论文“A High-precision Absolute Angular Displacement Capacitive Sensor Using Three-stage Time-Grating in Conjunction with a Re-modulation Scheme”。 　　

该论文首次提出了一种基于三级再调制原理的绝对式纳米时栅位移传感新方法，通过测量原理的创新和巧妙的结构设计，将第一级传感单元的输出信号作为第二级和第三级传感单元的激励信号，利用多传感器级联技术解决了空间尺寸受限情况下的高分辨力绝对式精密位移测量问题。研究结果表明，该纳米时栅传感器在相同尺寸大小和相同制造精度条件下，分辨力和精度均比同类传感器提高了2倍。博士生于治是论文的第一作者，刘小康教授为通讯作者，论文合作完成单位分别是合肥工业大学和中国计量科学研究院。该研究工作得到了国家自然科学基金重点项目和重庆市高校创新团队等项目的支持。相关技术2018年还获得了一项美国PCT发明专利，目前已在我国最大的数控装备企业——广州数控设备有限公司得到成功应用。